TXRD-DS 系列原位加载系统
TXRD-DS系列原位测试仪是⼀款紧凑型测试系统，可集成于激光共聚焦显微镜、透射式X射线衍射仪等成像系统下，实现⾼分辨率原位测试，并可配置⾼温、低温模块。
⼴泛应⽤于航空航天、地质、船舶制造、⽣物医学、电⼦器件等领域。对岩⽯、⾦属、复合材料、陶瓷等制品进⾏⼒学测试与分析；并结合显微成像系统研究材料在受⼒状态下的相变⾏为、取向变化、裂纹萌⽣与扩展等损伤机理。
⼴泛应⽤于航空航天、地质、船舶制造、⽣物医学、电⼦器件等领域。对岩⽯、⾦属、复合材料、陶瓷等制品进⾏⼒学测试与分析；并结合显微成像系统研究材料在受⼒状态下的相变⾏为、取向变化、裂纹萌⽣与扩展等损伤机理。
所属分类：
激光共聚焦显微镜、透射式 X射线衍射仪加载系统
- 详情描述
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应用及技术参数
● 最大力值：5kN；
● 力值精度：0.5%⽰值或0.1%FS；
● 温度：-150℃~1200℃；
● 温控精度：±1℃；
● 位移：0-10mm；
● 位移精度：0.1um；
● 试验速度：0.001-10mm/min。TXRD-DS 系列产品
激光共聚焦显微镜下应用
透射式 X射线衍射仪下应用
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